reed mark

reed mark的基本解释

-

筘痕

与reed mark相关的网络例句 [注：此内容来源于网络，仅供参考]

Their origins go back to work published in 1983 by Louis Brus, then at Bell Labs, in New Jersey, though it was several years before another physicist, Mark Reed at Yale University, described these tiny semiconductor clumps as "quantum dots".

其最初的原型要追溯到路易斯·布鲁斯于1983年在美国新泽西州贝尔实验室发表的研究成果，尽管几年前另一位名叫马克·里德的耶鲁大学物理学家已经将这些微型的块状半导体描述为&量子点&。

与reed mark相关的网络解释 [注：此内容来源于网络，仅供参考]

Reed mark：筘痕

(15)筘痕(Reed Mark) 外观:在胚布之两根经纱间,有较大之间隔,且能看到织入之纬纱,受钢筘筘齿之作用而锯齿形痕迹. 成因: 1.钢筘筘齿变形,未能将经纱控制在定位,或者筘齿发生松动. 2.经纱中有一根或间隔之数根,于织造时所受之张力过大.

Reed mark：扣路 服装加工过程英语

red 红色 服装颜色英语 | reed mark 扣路 服装加工过程英语 | reference "参考, 参照"

Reed mark：筘痕(织疵)

"筘角","reed level" | "筘痕(织疵)","reed mark" | "筘号数","reed number"

R reed mark：扣路

puckering (seam,front fly,pocket etc.) 打褶,起皺(縫接、鈕牌及袋) | R reed mark 扣路 | band seam,hemming and beltloop etc.) 縫不到卷入的紙口,如拉褲頭,埋內浪,拉腳及拉耳仔等

crease,reed mark：折痕

纬纱条痕 weft stripe | 折痕 crease,reed mark | 染花 uneven dye