可靠度

FORM

abbr. first order reliability method; 一次可靠度方法

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just-in-time system

四下 及时化生产系统

3 3 四下 国防工业概论/Introduction to Defense Industry | 3 3 四下 及时化生产系统/Just in Time System | 3 3 四下 可靠度工程/Reliability Engineering

just-in-time system

四下 更改名称 及时化生产系统

3 3 四上 新增 科目 系统工程与管理/System Engineering and Management | 3 3 四下 更改名称 及时化生产系统/Just in Time System | 3 3 四下 可靠度工程/Reliability Engineering

labor turnover statistics

劳工异动统计

员工进退率 labor turnover rate | 劳工异动统计 labor turnover statistics | 实验室可靠度试验 laboratory reliability test

Lack of fit

缺适性

实验室可靠度试验 laboratory reliability test | 缺适性 lack of fit | 无记忆性 lack-of-memory property

Lognormal distribution

对数常态分布

在此区间故障率对时间的关系一般符合对数-常态分布(Lognormal Distribution)模式. IC产品故障率评估之盲点普遍在评估IC产品可靠度的区域为浴缸曲线的生命期. 此一区域为实际IC产品使用者面对的区域. 通常IC制造业者会于IC测试过程时使用崩应(Burn-In)的方式将早夭期消除.

Lot tolerance fraction defective (LTFD)

批容许不良率

Lot tolerance failure rate (LTFR) 批容量故障率,批容量失效率 | Lot tolerance fraction defective (LTFD) 批容许不良率 | Lot tolerance fractional reliability deviation (LTFRD) 批容许可靠度变异

Lot tolerance fraction defective (LTFD)

批允差不良率

批允差故障率 lot tolerance failure rate (LTFR) | 批允差不良率 lot tolerance fraction defective (LTFD) | 批可靠度拒收水准 lot tolerance fractional reliability deviation (LTFRD)

Microchip

微 晶 片

IBM表示,将与欧盟国的企业、学校合作研发新技术,侦测微晶片(microchip)瑕疵,以改善晶片的可靠度与效能,预计将能加快晶片生产、降低生产成本.

open chain mechanism

开链机构

开式链 open kinematic chain | 开链机构 open chain mechanism | 可靠度 degree of reliability

tram stop：(有轨)电车车站

post 邮局 | tram-stop(有轨)电车车站 | zebra-crossing 斑马线

Jaish-e-Mohammad,JEM：穆罕默德军

16. 乌兹别克斯坦伊斯兰运动Islamic Movement of Uzbekistan,IMU | 17. 穆罕默德军Jaish-e-Mohammad,JEM | 18. 伊斯兰祈祷团Jemaah Islamiya Organization,JI